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            x射線熒光鍍層測厚儀

            簡要描述:x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237是一款應用廣泛的能量色散型x射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量分析極薄鍍層和超小含量而設計,是用于質量控制,質量檢驗和生產監控的Z合適的測量儀器。

            • 產品型號:X-RAY XDLM237
            • 廠商性質:經銷商
            • 更新時間:2018-05-31
            • 訪  問  量:14538
            產品詳情

            x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237也稱為X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用手動或自動方式,測量和分析微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規模生產的零部件上的鍍層。

            x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237典型的應用領域有:

            1,測量大規模生產的電鍍零部件

            2,測量微小區域上的薄鍍層

            3,測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

            4,全自動測量,如測量印刷線路板

            德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設計理念:

            FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設計為界面友好的臺式測量儀器系列,配備了馬達驅動的X/Y工作臺,當保護門開啟時,工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程Z軸升降系統。

            高分辨率的彩色視頻攝像頭可方便定位測量位置。配備了激光點,可以輔助定位并快速對準測量位置。

            測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計,由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板。

            帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放,并且允許測量點的調整。

            所有的儀器操作,以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示,都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM?軟件在電腦上完成。

            XDLM237型鍍層測厚及材料分析儀*DIN ISO 3497標準和ASTM B 568標準,型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規規定。

            為每次測量創造理想的激發條件,儀器配備可電動調整的多個準直器和基本濾片。比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。

            FISCHERSCOPE?-X-RAY XDLM237系統有著出色的性和良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器,節省時間和精力。

            由于采用了基本參數法,無論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。


            德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237參數規格:

            通用規格

            設計用途

            能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結構, 分析合金和微量組分。

            元素范圍

            從元素 (17) (92) 配有可選的WinFTM? BASIC軟件時,zui多可同時測定24種元素

            形式設計

            臺式儀器,測量門向上開啟

            測量方向

            從上到下


            X射線源

            X射線管

            帶鈹窗口的微聚焦鎢管

            高壓

            三檔: 30 kV,40 kV,50 kV

            孔徑(準直器)

            標準(523-440

            可選(523-366

            可選(524-061

            4個可切換準直器

            [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: ?0.1, ?0.2, ?0.3, 0.3x0.05 [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制

            基本濾片

            3種可切換的基本濾片(標準配置:鎳,鋁,無)

            測量點

            取決于測量距離及使用的準直器大小, 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的* zui小的測量點大小: 光圈約? 0.1 mm(選用準直器0.05x0.05 mm時)



            X射線探測

            X射線接收器

            測量距離

            比例接收器

            0 ~ 80 mm,使用保護的DCM測量距離補償法


            視頻系統

            視頻系統

            高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦,對被測位置進行監控 十字線(帶有經過校準的刻度和測量點尺寸) 可調節亮度的LED照明,激光光點用于定位樣品

            放大倍數

            40x - 160x

            電氣參數

            電源要求

            交流 220 V 50 Hz

            功率

            zui大 120 W (不包括計算機)

            保護等級

            IP40

            尺寸規格

            外部尺寸

            xx[mm]570 x 760 x 650

            內部測量室尺寸

            重量

            xx[mm]460 x 495 x 146

            120kg


            工作臺

            設計

            馬達驅動可編程X/Y平臺

            zui大移動范圍                    255 × 235 mm

            X/Y平臺移動速度                 80 mm/s

            X/Y平臺移動重復精度             0.01 mm, 單向

            可用樣品放置區域                300 × 350 mm

            Z                            可編程運行

            Z軸移動范圍                    140 mm

            樣品zui大重量                    5 kg,降低精度可達20kg

            樣品zui大高度                    140 mm

            環境要求

            使用時溫度

            10°C – 40°C

            存儲或運輸溫度

            0°C – 50°C

            空氣相對濕度

            95 %, 無結露

            計算單元

            計算機

            帶擴展卡的計算機系統

            軟件

            標準: WinFTM? V.6 LIGHT 可選: WinFTM? V.6 BASIC,PDM?,SUPER

            執行標準

            CE合格標準

            EN 61010

            X射線標準

            DIN ISO 3497 ASTM B 568

            型式批準

            安全而保護全面的測量儀器, 型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規規定。

            訂貨號

            FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

            604-347





            如有特殊要求,可與FISCHER磋商,定制特殊的XDLM型號。


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